本文标题："光电领域研究表面轮廓测量仪器-高解析度的光学成像显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2013-9-26 5:29:37
光电领域研究表面轮廓测量仪器-高解析度的光学成像显微镜
近年来Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体家族以及有机
发光半导体材料在光电领域研究上扮演着很重要的角色，
以偏光调变近场光学显微镜(PM-NSOM)为工具，利用其高解析度的光学成像能力以及结晶对不同偏振光的吸收差异，
研究无机半导体-(氮化铟镓薄膜)与有机半导体(OLED)中电子传输层(Alq3)之结晶状态与其发光特性。在氮化铟镓薄膜上，
我们成功的量测出结晶化程度较差的V型缺陷为非辐射复合中心，而围绕在V型缺陷环之铟含量比较多的氮化铟镓簇则为辐射复合中心，
其结晶化程度也较佳。在OLED上，我们成功的量测出低温制程(-150℃)Alq3薄膜的结晶情形，
而利用此低温Alq3做成的OLED元件，其发光效率也较传统元件来的高
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光电领域研究表面轮廓测量仪器-高解析度的光学成像显微镜,金相显微镜现货供应
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