本文标题："岩石层厚度量测以及孔隙率测量影像测量仪器"

岩石层厚度量测以及孔隙率测量影像测量仪器

判断震波反射和层面之间的关系，进而评估个别反射的可能时间意义。如果有声阻的变化，

震波反射祗会在层面的地方发生。此外，还有侧向及垂直方向的解析度问题存在。为了研
究在不同状况下的层面的震波响应，我们检讨一下最有利的情形：即 1000 公尺或一秒
钟的双程走时的较浅深度、高频震波（约 50 赫）以及低速（约 2000 公尺／秒）。这些
参数代表在探勘工作最佳的例子。在深度或速度上的增加以及在频率上降低，都会对
垂直方向及侧向的解析度有严重的效果。就以上的频率及间隔速度而言，一个地层至
少须有 20 公尺厚（40 公尺波长的一半），才不致从地层的顶部及底部来的反射之间发
生干扰现象。由 20 公尺降到 10 公尺（四分之一波长，即调波厚度）时，则由地层的
顶部及底部来的反射之间将发生干扰。最大的建设性干扰发生在 10 公尺，

即调波厚度，但要求在地层单元的顶部及在底部反射系数具有不同的极性。在调波厚度的时候，震
波反射像似一单纯的涟波，振幅最大。当厚度小于 10 公尺时，震波响
应为一单纯的一定波长的涟波，不过，随着厚度更薄，振幅变小。对于 1 公尺左右厚
度的独立地层，其震波响应可以忽略。相当于这些参数的夫瑞奈带的半径，在未经移
位的剖面上，约为 141 公尺。

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