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本文标题："金属截面晶粒尺寸测量其厚度用工具显微镜"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-7-27 22:22:30

金属截面晶粒尺寸测量其厚度用工具显微镜

要解决该问题，首先要能识别再结晶区的存在。由于再结晶

区的组织结构、弹性模量与未发生再结晶的区域有较大的差异，可

能在两者界面上产生超声波的反射，从而可利用反射信号识别再

结晶层并测量其厚度;同时，两者晶粒尺寸与组织结构的差异也可

能引起超声散射信号的差异，通过信号处理识别再结晶层的存在。

在可识别再结晶层的情况下，一方面要根据基体和再结晶层组织

结构特点合理制订检测工艺，得到准确波形;另一方面，要研究如

何进行信号分析和特征值提取，这两点是再结晶层超声无损检测

的关键所在。检测方法的确定主要考虑如何获得准确的超声回波信号。

对于具有再结晶层的叶片，得到的超声脉冲回波信号比较

复杂，不同界面的多次回波互相交错，甚至叠加，带来波形识别上

的困难。为此，首先应保证探头与探伤仪之间的良好匹配，并设法

获得声束宽度很细的脉冲信号;其次，通过驱动装置控制探头的移

动范围和精度，以便改变声束焦点的位置，获得不同深度、不同位

置处的精确回波。

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