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本文标题："晶粒截面分析样品,实际试样中相邻晶粒分析"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2015-5-4 21:5:17

晶粒截面分析样品,实际试样中相邻晶粒分析

由于实际试样中相邻晶粒之间的取向差不同，各个相

邻晶粒对之间的表面能差值也将不同。所以尽管从整体上讲晶粒

长大已被阻止，但也存在这样的可能性，即在试样的某些局部，个

别晶粒与其邻晶相比表面能特别低，从而能获得足够大的驱动力

以克服各种因素(如表面蚀沟、杂质原子、第二相粒子等)的阻

力而继续生长。由于此时其他晶粒的生长已受阻碍，这些个别晶粒

的长大必然表现出异常晶粒长大的特征。

样中的正常晶粒长大受表面蚀沟的阻碍而停止时，常常会发生由

于表面能差异而诱发的异常晶粒长大。给定的材料中往往只有个

别晶面具有最低的表面能，例如，在面心立方金属中具有最低表

面能而可能成为二次晶粒的是以及面平行于表面的晶粒，在铁硅

合金中是以及面平行于表面的晶粒。

改变退火时的气氛条件将可能改变不同取向晶粒之间表面能

的差异，从而改变异常晶粒长大后的材料织构.这一原理已被用于

硅钢片的生产工艺控制，以求获得尽可能集中的戈斯织构或者立

方织构。

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