欢迎来到上海光学仪器一厂

本文标题："非均质矿物的光学双折率的测定矿物显微镜应用"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2015-10-5 16:34:6

非均质矿物的光学双折率的测定矿物显微镜应用

双折率的测定同一矿物，切片方向不同，其双折率亦

不同，测定矿物的双折率，是指最大双折率，所以必须在

定向切片中进行，一轴晶要选平行光轴的切片；二轴晶要

选平行光轴面的切片，它们的干涉色都是最亮的，其测定

方法如下。

1 、选择干涉色最高的切片，利用石英楔测定其干涉

色级序；2 、利用同一薄片中已知双折率的矿物，估计矿

片的厚度；3 、根据测定的干涉色级序及估计薄片厚度，

应用干涉色谱表求出相应的双折率。

不管光线如何倾斜，其光波的振动平面仍然与下偏光

振动方向平行。

如前所述，非均质矿物的光学性质有方向性，对于不

同方向射入的光所显现的光学效应是不同的，当许多不同

方向的入射线同时通过晶体后，在到历上偏光镜时所发生

的消光与干涉效应也各不同相同，所以在锥光镜下所观察

到的，应当是偏光锥中各个入射光上偏光镜干涉色图形，

一般称为干涉图。

tags:材料学,技术,光学,金相显微镜,上海精密仪器,

非均质矿物的光学双折率的测定矿物显微镜应用,金相显微镜现货供应