本文标题："烧结金属颗粒体积扩散模型分析光学式显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-12-10 21:10:8
烧结对杂质很敏感，根据体积扩散模型分析显微镜
杂质的重要性
烧结对杂质很敏感，根据体积扩散模型，就容易理解，因为缺浓
度大大地受杂质离子浓度，特别 是那些价数与主体晶格不同杂质
离子浓度的影响，是以，如将二氧化铸加入氧化美，产生正离子空
位所以促进烧结，并且在实践中被证实，还有，在有气态氧存在时
，由于它使一些离子转变成空位数目将进一步增加，是以二氧化钛
促进烧结的影响，在有氧存在时应比在有惰性气体存在时为高，这
也为实验所发现，郭的加入应促进烧结，因为产生了0空位，一个
为实践所支持的预测：氧化镁中如加入0.5%，在1400℃时灼烧产生
为3.46的密度，而如氧化镁是纯的，要到达这种密度，需要加热至
1800℃的温度，反之，如固体的空镁浓度减低，对烧结的阻力增加
。
杂质对范性流动较难想象，但是可以预测，杂质含量也会影响位
错的比例，从而影响烧结的性质。
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