本文标题："荧光(XRF)分析技术涂层的质量检测仪器"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2017-10-3 23:29:40
荧光(XRF)分析技术涂层的质量检测仪器
在工厂，X射线荧光(XRF)分析元素技术已用于准确地控制涂层
的质量，由非实验室人员进行的XRF测试，就能迅速得到关于涂覆涂
料的量和均一性的信息，有关的分析数据很精确。已证明XRF对测
定纸或膜上硅氧烷涂层的质量，以及在纸中填充的二氧化钛的质量
和膜上银的质量很有效。
技术
X射线荧光是快捷的、非破坏性的和比较性的技术，能够定造
测定很多材料中的元素。XRF类型很多
XRF台顶式分析仪以低能级的放射性同位表作为辐射源，辐射
源与试样距离很近。辐射源发出的一次X射线照射到试样上，产生
二次X射线荧光，二次X射线荧光能够表征试样中元素的特定的能量
，这种能量与化学或物理状态无关-在一充满气体的计数器中检测X
射线，得到一系列的脉冲，其振幅与入射的辐照能量成比例。例如
，从硅元素X射线得到的脉冲数与试样中硅氧烷涂层的质量成正比+
因为这项技术是非破坏性的，所以．可以在任何时间对试样进行重
复分析。
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