本文标题："芯片影像坐标测量仪器-量测型工具显微镜厂商"

芯片影像坐标测量仪器-量测型工具显微镜厂商

(1) 目前整体补正流程皆于离线(Off-line)测试，未来将进行线上(In-line)
测试，如系统通过测试，将运用于生产线试产并量产，期望提高技
术自主性。
(2) 芯片局部影像采集同时必须将影像中心座标记录成档名的形式，考
虑到往后于线上量产时，手动影像采集与记录座标值将会消耗掉不
少时间，无法满足量产性，因此如以自动化的方式进行影像采集同
时软件自动读取进行分析，如此能确保量产时速度上的需求。
(3) 本研究于两次电极涂布中会造成对位产生误差的因素进行探讨，而
没有考虑到的因素，例如：网版、涂布银胶、刮刀角度、刮刀软硬
度等皆可再进一步研究，如果可与本研究结果进行结合，相信两次
电极轮廓对位会更加精准，电池转换效率相对也将提升

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