本文标题:"金相分析软件测量晶粒大小可以使用的截点方法"
发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间:2014-4-5 5:15:33
金相分析软件测量晶粒大小可以使用的截点方法
把大量截点的统计优点和在测量中正态分布的离差结合起来而获
得的正态分布估计值,这种统计学的方法被用于表示最好及最差状况
的显微组织中。其主要结论和发现是:
1.更确切地说,对于具有均匀等轴晶粒组织和非均匀变形晶粒组
织的两种铁素体钢是有效的,在95% 置信度下它测得的晶粒尺寸精确
度达到3%
2.改进了的测量晶粒大小的截点法进行的步骤,提供了定量测定
的又快、又准确的方法。
3.最后,这一方法用以测量混合晶粒组织时是足够灵敏的。
后一篇文章:测量电镀层厚度的仪器-显微分析光学显微镜 »
前一篇文章:« 定量测量单相显微晶粒大小-金属试样显微分析显微镜
tags:技术,材料学,金相显微镜,上海精密仪器,
金相分析软件测量晶粒大小可以使用的截点方法,金相显微镜现货供应
本页地址:/gxnews/1523.html转载注明
本站地址:/
http://www.xianweijing.org/