本文标题："全息照像立体测量计数简介-光学影像测量显微镜"

全息照像立体测量计数简介-光学影像测量显微镜

利用干涉测量法进行立体测量，叫做全息照像干涉测量技术。
    我们来探讨一下它的实质。
    如果把全息图放在它原来曝光的地方，而将物体拿走，则曝光时
由物体散射的光波可以再现。如果不拿走物体，那么可以看到两个光
波：一个是由物体直接散射的，另一个是全息图再现的。

    这些光波发生相干而且可能干涉。如果在摄取全息图和观察物体
之间的间隔时间内，发生了某些变化，例如发生了变形，它立刻就反
映到被观察的图象一物象上，显示出分裂的干涉条纹。这样，就可以
使不同时间形成的两个光波互相干扰。

    全息照像干涉测量技术，可以研究任何形状和任何光学性质的物
体。因为标准的光波是由被研究物体本身在原始状态造成的，而干涉
图象是由那些和物体一起发生的几何形状变化和相位变化所决定的。

    如果在记录全息图之后，物体表面没有发生显著的变化，则可以
见到那些相当于物体在空间位置变化的正规干涉图象。这些变化是与
物体一起发生的。如果物体表面形状有显著的变化，就不能看到这些
干涉条纹。因为由一点到另一点的光程变得杂乱无章了，所以相应的
干涉图象的组织也是不规则的，它的空间频率很高。由于这个原因，
以及物体在两个比较状态中，其表面形状发生明显的变化时，例如，
表而上涂了漆或经过化学腐蚀时，全息照像干涉测量技术就不能比较
各种发散的透明物体和反射物体了。但是，当物体表面形状发生变化
时，可利用减少条纹的对比度，来观察这种变化的特性，例如，用于
观察腐蚀过程。
 

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