本文标题："矿物的折射率可用显微镜测量-颗粒直径测量"

矿物的折射率可用显微镜测量-颗粒直径测量
矿物研究

    在两面抛光薄片或超微薄片对矿物作下述光学测定的范围并不是作为一
种建议而提出来的。我们采用其它补充技术的经验表明，这只是一种较快速
和可靠的方法。
    在作两面抛光薄片观察时，我们根据下列光学性质对矿物作初步鉴定:

①外貌，包括颜色、习性、多色性、解理、双晶，以及其它形貌方面的参数

②与石英、长石或其易鉴别的黑色矿物，如云母、角闪石、辉石和其它副矿
物进行比较而估定的折射率和重折射率;

③我们偶尔也在锥步下对矿物的延性符号和光性符号作检查。因我们实验室
还备有一台干涉显微镜，可在该镜上通过与石英的N。或粘结树胶折射率的
比较来推定矿物的折射率，进而对矿物作初步鉴定。如果经过上述的快速研
究还不能对矿物作出鉴定，那就要在薄片上把这个矿物的位置用色笔作出标
记，并进行显微照相，以便作下一步的电子探针分析。目前我们还不能对薄
片中的矿物作就地X射线衍射分析，只好转向对经过显微镜检测的该矿物压
碎颗粒进行研究，从而可以避免从薄片中揭取细小矿物的困难。

    我们认为，最好同时对两面抛光薄片和矿物的松散自由颗粒进行研究，
这样可以相互取长补短，以便从很小一点岩石样品上获得尽可能多的和准确
可靠的科学数据。
 

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