本文标题："CCD可用于激光衍射的细丝测量-CCD投影测量仪"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2014-5-11 17:15:35
CCD可用于激光衍射的细丝测量-CCD投影测量仪
CCD也可用于激光衍射的细丝测量中，不仅可以测量圆截面的细丝，也
可以测量短形截面的细丝。
有关资料介绍，测量矩形截面的细丝时，静态下可测范围为10~100μm，一
次调整的线性范围在±1μm间;
而在动态下，线性度小于10%，自动测量的不确定度小于0.15μm
全息干涉测量与全息显微是全息术在测量中的应用。全息术(即全息照
明)是利用干涉和衍射方法来获得被测物主维立体像的一种成像技术。它于1
947年由英国科学家伽伯(Gabor)发明。他当时是为了提高电子显微镜的鉴别
率，对全息术进行了一些实验。
但由于缺少强的相干光源，全息术的研究进展缓慢。60年代激光出现以后，
由于它具有很强的相干性，成为全息照相较理想的光源。从此，全息术得到
了广泛应用。
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