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本文标题:"相衬显微镜的原理-借助图像的反差衬度观察"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2014-5-22 17:10:30

相衬显微镜的原理-借助图像的反差衬度观察

 
    显微镜(OM, SEM ,TEM , AM) 主要依靠波源与物体相互作用
时改变折射率( 波速) 或吸收性来放大成像. 人们也可以利用一
根扫描探针去获得一个物体样品的信息,类似于盲人使用拐杖一
样。
    这种收染信息的方法依赖于样品表面与一个点源的局域化相
互作
 
    用,此时仅收集到样品的表面形貌。并不像采用波源的显微
镜可以获得样品表面以下的形貌。扫描探针显微镜的探针扫过样
品形貌时可能发生许多“表面一针尖”的相互作用,这些作用可
能是吸引或排斥的原子一原子相互作用,也可能为磁力、静电力、
电荷( 离子或电子) 交换作用,从而形成不同类型的显微镜,统
称为扫描探针显微镜(scanning probe microscopy,SPM)。
 
    扫描探针显微镜的分辨率取决于针尖的半径以及表面一针尖
相互作用的距离。例如,对于扫描隧道显微镜(scanning tunneling
mi- croscopy, STM ) ,其图像的反差衬度来源于电子发生隧道
效应产生的电流,它与距离成指数下降关系,这种距离的灵敏度
在原子线度内具有原子分辨率。
 

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