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本文标题："TEM电子显微镜观察镀有碳膜或涂碳聚合物膜"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-6-23 19:57:31

TEM电子显微镜观察镀有碳膜或涂碳聚合物膜

TEM是获取胶体体系相关信息的一种强有力的技术。人们例行地用它获取

胶体颗粒大小、形状、分散度和凝聚情况等信息.它也能够对内部结构、化学组

成和品体学信息进行分析。在胶体体系的分析中，最关键的一步往往是样品的制

备。

正如上面所提到的，由于仪器设计的原因，对样品有许多普遍性限制(真空、热

、光稳定性)。对于TEM分析，进一步的限制针对样品的维度.样品通

常由镀有碳膜或涂碳聚合物膜的3mm直径的铜微栅网支撑。选择这样的支撑膜

是因为碳具有较低的原子虽，且呈非晶态，以便使样品图像中信息损失减至最

小.另外，样品应该尽可能地薄(<1μm)，以便使电子容易通过，并将电子束

对样品的损伤降至最低。

许多种技术可以用来为TEM分析制备样品。然而，所有的制样

步骤都可能给样品图像带来假象。下面通过一些挑选的TEM研究胶体粒子的实

例来重点展示从胶体粒子的简单分散体可以获取的信息范围，以及采用一些间

接制样方法能够获得的附加信息.

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