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本文标题："光学分析软件-带显微图像自动计量成像装置"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-8-2 5:40:43

光学分析软件-带显微图像自动计量成像装置

(1)导电高分子薄膜材料的厚度对材料的力学性能具有很大的影响，薄

膜较薄时表现出较好的力学性能，当薄膜厚度超过某一临界厚度时，薄膜的弹

性模址趋于同一值，但是薄膜的屈服强度随膜厚仍呈下降趋势。对于聚哦吩

而言.厚度为4-5μm的薄膜表现出最佳的力学性能，当厚度超过10μm，材料

的弹性模量几乎是一样的.对于聚毗咯材料而言，厚度在15μm以上的聚毗

咯薄膜材料的弹性模且是一样的，较薄一点的薄膜性能较好。

(2)导电聚唾吩和聚毗咯薄膜材料与磁带材料相比其材料强度并没有多

大差别，主要差别体现在材料的韧性和延伸率。由此可见，导电高分子材料的

力学性能离实际应用的要求已经非常接近了。

(3)膜厚对导电高分子力学性能的影响可能与薄膜的生长机理随厚度的

增加而变化有关，为了获得具有最佳的力学性能参数的导电高分子薄膜材料，

有必要对现有工艺条件进行改进。

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