本文标题："多晶试样中，总是有某些表面晶粒计量分析显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-2-10 10:43:13
多晶试样中，总是有某些表面晶粒计量分析显微镜
在多晶试样中，总是有某些表面晶粒，共有效滑移面相对于
最大分循环剪应力的位向是有利的，单晶体与多晶体不同，其表
而条痕的外貌取决于最大分剪应力和有效滑移面的相对位向。曾
指出，当方截面单晶体承受循环扭转载荷时，如果晶体的有效滑移
向量平行于一个面，由于剪应力在试样每个而的中点达到最大，
而在角上减小到零，因此晶体上没有由越出表面的剪应力分量产
生滑移运动的地位，故因滑移越出表面而造成的表面开裂所起的
影响最小
虽然许多延性纯金属和简单合金在室温下和接近长期疲劳强
度的应力级下作试验时，会出现滑移带开裂，但是金相检验表
明，其他金属会出现晶界开裂，而实际上在较低应力级下出现滑
移带开裂的那些金属，在经过短耐久期后引起断裂的应力级或应
变幅下就会出现晶界开裂。表面变形的剧烈变化造成晶界开裂，
估计可能是山于晶界不能适应邻近晶粒中发生的大循环
变形，因而在晶界上产生了严重的应变梯度，这样就产生了引起
表而裂隙的附加剪切作用
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