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本文标题："全息照像测量技术-光切显微镜制造设计定制厂商"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2015-6-21 15:0:55

全息照像测量技术-光切显微镜制造设计定制厂商

因为由一点到另一点的光程变得杂乱无章了，所以相应的干涉图

象的组织也是不规则的，它的空间频率很高。由于这个原因，以

及物体在两个比较状态中，其表面形状发生明显的变化时，例如

，表面上涂了漆或经过化学腐蚀时，全息照像干涉测量技术就不

能比较各种发散的透明物体和反射物体了。但是，当物体表面

形状发生变化时，可利用减少条纹的对比度，来观察这种变化的

特性，例如，用于观察腐蚀过程。全息照像干涉测量和普通干涉

测量是有区别的。它能利用同一个光路记录不同时刻的波前，这

就能用由真实物体所得到的干涉图与标准物体干涉图进行比较。

此时，一般说来，对光学器件的质量要求并不十分重要。因为即

使光学零件不完善，两个干涉波的变化程度仍是一样的。较粗糙

的表面，用全息照像干涉测量技术比较方便，只是在全息图方向

上要散射足够的光虽。它不需要比较标准样件，就可以进行任意

的相对测量。例如，可以测量当表面变形或受压缩时，表面移动

的情况。这时，原始的表面状况，可以用作最终表面状况的标准

样件。最深的概念在全息照像中已失去了意义，因再现物体的厚

度只与所用激光的相干长度有关。

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