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本文标题:"全息照像测量技术-光切显微镜制造设计定制厂商"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2015-6-21 15:0:55

全息照像测量技术-光切显微镜制造设计定制厂商

 
因为由一点到另一点的光程变得杂乱无章了,所以相应的干涉图
象的组织也是不规则的,它的空间频率很高。由于这个原因,以
及物体在两个比较状态中,其表面形状发生明显的变化时,例如
,表面上涂了漆或经过化学腐蚀时,全息照像干涉测量技术就不
能比较各种发散的透明物体和反射物体了。但是,  当物体表面
形状发生变化时,可利用减少条纹的对比度,来观察这种变化的
特性,例如,用于观察腐蚀过程。全息照像干涉测量和普通干涉
测量是有区别的。它能利用同一个光路记录不同时刻的波前,这
就能用由真实物体所得到的干涉图与标准物体干涉图进行比较。
 
此时,一般说来,对光学器件的质量要求并不十分重要。因为即
使光学零件不完善,两个干涉波的变化程度仍是一样的。较粗糙
的表面,用全息照像干涉测量技术比较方便,只是在全息图方向
上要散射足够的光虽。它不需要比较标准样件,就可以进行任意
的相对测量。例如,可以测量当表面变形或受压缩时,表面移动
的情况。这时,原始的表面状况,可以用作最终表面状况的标准
样件。最深的概念在全息照像中已失去了意义,因再现物体的厚
度只与所用激光的相干长度有关。

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