本文标题："微观结构分析方法-晶体学分析实验图像显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2016-6-22 21:16:24
微观结构分析方法-晶体学分析实验图像显微镜
晶体学分析方法
晶体学分析技术基于采用x射线或者电子束伴随的磁场(选区衍射)
衍射分析。这些技术在下列方面是很有用的：
·试样中的物相；
·晶粒的晶体结构；
·透射显微镜下可观察到的晶粒的结晶度。
选区衍射(SAD)微观结构分析方法
微观结构分析可采用扫描电镜，隧道扫描电镜和原子力显微镜对涂
层表面进行观察，涂层的截面显示了涂层的内部结构。涂层中比较明显
的特征，比如孔隙，裂纹和扁平颗粒，可以通过光学显微镜和扫描电镜
进行观察，最后，透射电镜可观察到单个小晶粒的内部结构。光学显微
镜(OM)
光学显微镜，目前常使用的，它提供了涂层与基材最基本的信息
，这种手段可对如下进行分析：
·孔隙
·未熔颗粒
·基材的变形(机械变形或者热变形)
·测试涂层中不同的相，比如金属陶瓷涂层中金属相和陶瓷相
·颗粒形成的扁平颗粒，有还原反应或者氧化反应
·固态夹杂，可能源于等离子喷涂时候铜颗粒或者钨颗粒(在涂层
内)，或者源于涂层前处理(在基材与涂层界面)
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