本文标题："光学显微镜测定颗粒大小可直接观察也可用投影"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2016-11-4 22:55:45
光学显微镜测定颗粒大小可直接观察也可用投影
在研究光学显微镜测定颗粒大小的准确性时表明：在理想条件下观
察大于约1μm的颗粒时偏大0．13μm， 测量颗粒的范围
可以直接观察也可以用投影法观察影象。鉴定颗粒都愿用双目镜，
做颗粒大小分析多用单目镜，这是因为可以调节镜筒长度以逐步放大。
多数有经验的操作者愿用直接观察。投影法不易使眼睛疲劳，常用于持
续时间很长的计数工作。既可以前投影也可用反投影。用前投影时因得
到的对比度差，而可在暗室中操作。反投影亮度较好，但影象的清晰度
不好，不过可以用一种装置来校正，即用两块互相接触的毛玻璃投影屏
，一块相对于另一块慢慢地移动。一些自动的和半自动的计数和测定颗
粒大小时装置从负或正地从事工作。用照相法和光学显微镜结合的主要
缺点是：只有在好的焦距中的颗粒能被测量， 所以容易造成严重偏差
。虽然照象法常棱采用而且能得到永久性的记录，但操作时间长，抵消
了利用高速计数器的优点。当进行需要称量的计数时尤为如此，因为从
统计学观点来看要得到准确的结果应观察许多视域。
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