本文标题："均质晶体的鉴定双折射矿物分析显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
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均质晶体的鉴定双折射矿物分析显微镜
透明晶体光学性质的系统测定
这里主要介绍如何对偏光显微镜下显示的光学性质进行简捷的测
定，最后确定透明晶体的名称。首先区分研究对象是均质体还是非均
质体，再各自按一定程序测定光学性质，最后从有关鉴定图表中确定
晶体的名称。
1．均质体和非均质体的区分
均质体薄片在单偏光下透明或半透明，可以有颜色，但无多色性
及吸收性；正交偏光下呈全消光，在聚敛偏光下仍为全消光而无干涉
图。
非均质体薄片，除垂直光轴切片在单偏光及正交偏光下具有与均
质体相同的特性外，其他方向切片，在单偏光下有色晶体则具有多色
性及吸收性，有时还呈现闪突起；正交偏光间呈现四次消光及干涉色
；所有方向切片在聚敛偏光下都具有干涉图。
2．均质晶体的鉴定
因为均质晶体不发生双折射，正交偏光下和聚敛偏光下均为全消
光，所以所有光学性质都是在单偏光条件下进行研究和测定的。
鉴定均质晶体的光学性质有：晶体及其集合体的形状、解理的发
育程度及组数和解理角、透明度、颜色、突起等级、折射率范围和绝
对折射率等。
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