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本文标题："细小的金属单晶纤维需要电子扫描式显微镜才能看见"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2013-7-5 17:30:9

错位是一种晶体之线性瑕疵，也就是众原子之排列发生了错乱。这种错乱，

使得晶体局部产生扭曲，因而能够改变那透过金属薄片之电子束（Electron Beam）

之进行方向。所以我们可藉透视电子显微镜（Transmission Electron Microscope）

来观察呈黑丝状的错位。最常见的一种错位是晶体内半个平面之原子“失踪”。

这种错位易于叙述和解释。而这些错位之易于移动，使得实际上之晶体变得很“软弱”──

即在很小的应力之作用下，便承不住而变形。

这种情形可举一日常所见之惯例来解说之，如果地毯铺得相当的平，

则我们要费很大的力量才拉得动整个地毯。就如需要极大的应力才能使没有瑕疵的晶体变形

一样。假使地毯上有道隆起之脊背，当我们拉动此地毯时，该脊背能顺沿着地毯而移动。

实际上，我们是在间接地将该脊背移动。自然我们所用之力较拉全平之地毯小得多。

同样的道理，很小的应力便能将晶体内之错位移动而使之变形。

同时也说明了为何那几乎无瑕疵的晶体其强度几能达理论值（例如细小的金属单晶纤维）

由上所述，我们可得到一个结论，金属强化的方法，便是要防止错位之存在或是阻挠已存在

着的错位之移动。值得注意的是，金属之延性（Ductility）也是由于错位之移动来决定

。其与强度所不同的是趋势相反──错位愈容易移动，

则延性愈高。所以我们常须在强度与延性间作个妥协，以求得最适用之材料。

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