本文标题："在光学显微镜和立体显微镜下分析测定岩石试样"

在光学显微镜和立体显微镜下分析测定岩石试样

    透射电子显微镜观察所需要的薄片需要特殊的制备工艺，
一般需要用很薄的超薄片，其厚度取决于矿物的吸收系数和人射电子能。
在100 kV要求的厚度为1一0.3μm。电压为1 MeV时，厚度为1μm。

样品制备过程是先将块状样品切割成薄片，将其一面磨平并
抛光，用光学树脂胶(热熔性胶)将样品光面粘在载玻片上，研磨至小于0.03 mm左右
的薄片，抛光样品表面。然后在光学显微镜和立体显微镜下，选择合适的目标矿物颗粒。
用环氧树脂胶在目标样品上粘一个透射电镜专用铜环。

固化后，在酒精灯火焰上烤熔样品
和载玻片之间的光学树脂胶，取下目标样品。要获得超薄片最有效的办法是离子减薄法，
将样品放人离子减薄仪在高真空的条件下用氢离子轰击，进行离子减薄，直至在样品中心
穿孔，并出现薄区。然后镀上碳膜即可在TEM下对超薄片或击穿孔薄片的边缘部分进行
观察。观察时要求迅速快捷，以防电子辐射损伤严重影响图像

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