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本文标题："光学显微镜的成像装置图像CCD-磨粒图像分析"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-3-4 22:47:28

光学显微镜的成像装置图像CCD-磨粒图像分析

图像预处理CCD 图像采集方法是将多维图像变成一维电信号，再

对其进行处理、存储、传输等加工，最后通常要再组成多维图像信号。

在显微镜条件下，磨粒图像中存在各种各样的噪声和畸变对磨粒

识别的准确性产生影响。

通过预处理去掉这些噪声和畸变，使得磨粒的特征参数提取和识

别过程更易于进行

预处理一般采用卷积运算，即将算子（有时也称为模板）与数字

图像进行卷积运算。例如，平滑算法是将原图中一个像素的灰度值和

它周围邻近8 个像素的灰度值相加，然后将求得的平均值作为新图像

中该像素的灰度值。卷积是一种用途很广的算法，可用卷积来完成各

种处理变换，后面将要讨论的细化、边缘检测等都要用到卷积运算，

其中包括：邻域平均法、中值滤波、复合型中值滤波、高阶中值

滤波、空间域低通滤波、频率域低通滤波和多幅图像平均法。

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