本文标题："AFM显微镜的测量原理-显微仪器制造厂商"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2014-3-6 17:10:53
AFM显微镜的测量原理-显微仪器制造厂商
原子力显微镜（Atomic force microscopy ，AFM ）
扫描隧通显微镜的主要局限是不能使用绝缘的基体。然而在能够
发生隧进电流的距离，探针尖与基体间存在引力或斥力，这种力与撰
体导电与非什电的性质无关。
为了测量这种力，将针尖固定在软的悬臂弹簧的一端，针尖的偏
移可以用光学的。为了测量法或光束偏移法监测。这些忿臂弹簧是由
硅、二氧化硅或氮化硅（横向尺寸100 μm ，厚Iμm ）用光刻微技
术制成的。一端连接一个小金刚石针尖，
通常这种方法的分辨率没有扫描隧道显微镜高。然而这种方法可
以应用于一些聚合反应，如蛋自质在绝缘表而的吸附和阳极氧化膜的
腐蚀等。
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