本文标题："土壤矿物微量分析测量用专业偏光显微镜制造厂商"

土壤矿物微量分析测量用专业偏光显微镜制造厂商

    激光光谱仪(laser spectrometer)连带偏光显微镜不能用于扫描。但是，样本的分析表
面虽仅稍大于微探针分析的表面，然而精密度较大。

    微量化学分析可用于土壤薄片。这是借加入特殊试剂，靠用目力比色鉴定的方法。这种
技术的潜在作用还待探索。

    根据光学性质和结晶学特征，运用普通偏光显微镜可进行矿物微量分析;但是，只有在
矿物的大小超过土壤薄片的厚度时才有可能。因为土壤粘粒矿物过小，如用偏光显微镜是很
少能鉴定的。
    然而，有其它技术可用以鉴定土壤矿物。例如，应用相差显微镜(或干涉相，interfere-
nce phase)观察，透射电镜(TEM)观察小样本的悬液等。这些方法可鉴定粘粒矿物的主要
类型，但是认识它们在上壤中的转变还有困难。

    用X一射线衍射法进行微量分析还不可能很清楚。另一种方法是从旋转阳极而放射出的
X一射线来对准焦点;并在反射镜(mirror)中，用偏光显微镜观察所测的分析点位。这种方
法仍在研究中。

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