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本文标题："陶瓷胶体粒子颗粒样品-图像分析金相软件"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-6-24 10:15:8

陶瓷胶体粒子颗粒样品-图像分析金相软件

TEM的一个关键优势在于它对材料内郁结构成像的能力。

TEM可以用来为其他技术提供必要的补充信息，比如多孔材料的表面积测

定或品体的XRD分析。并且，TEM分析只需要很少量的样品，这意味着当大

块材料分析不可能进行的时候，TEM独自即能提供表征。

十多年来.用表面活性剂凝聚结构作为模板制备的介观结构的无机材料已经

引起广泛的兴趣。这类材料的TEM分析可以直接测定孔径、壁厚、孔序度等参

数.二氧化硅MCM-41颗粒的胶态分散体的TEM图。

通过图像处理和分析可以精确确定孔一孔间距。对于陶瓷胶体粒子，一个常

见的假象是聚集粒子的烧结，比如二氧化硅颗粒表面硅烷醇基团的缩合反应。相

关的晶体微孔沸石材料往往对电子束非常敏感.在电子束照射下结品度容易受

损。对于这类及其他热敏性材料，可以采用低温TEM的样品台在低温下观测以

提高其稳定性。

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