本文标题："显微镜分析切片技术-复型品用TEM进行检测"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2014-6-27 17:15:42
显微镜分析切片技术-复型品用TEM进行检测
切片技术一个替代方法是制备样品表面碳一铂复型品的方法。制备复型品时，将铂以
20°角喷射在样品表面(在真空状态下通过耐热蒸发器连接在碳弧.上，或用离子溅射在铂
靶上)，然后碳层直接从表面蒸发掉(碳弧或耐热性碳纤维)。
碳形成一个连接层，而金属铂可以根据样品的表面波动形成图像。样品可以从复型品中溶
解掉(有时不容易做到)，然后复型品用TEM进行检测。复型技术会产生热量，所以在通常
情况下，仅适用于固体和热稳定性样品。不耐热的样品可以用冷冻法复制，或在复制过程
中保持冷冻状态，这些方法与冷冻断裂和冷冻蚀刻技术有关
表面复型技术为超薄切片提供了一种有效方法，并可以避免化学固定和乙醉脱水的影
响。因此，可以采用此方法从超薄切片中观测重要发现，有助于解释超薄切片图像的
含义。
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