本文标题："带有质谱仪的电子显微镜加以分析-电子衍射原理"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2014-9-4 17:15:2
带有质谱仪的电子显微镜加以分析-电子衍射原理
在所有这些晶间沉淀脆性的事例中，还必须估计到沉淀处理过程中还会
出现杂质偏析的可能性。它们的不利影响将在以后讨论，而这会加剧沉淀相
引起的脆性。
我们指出从沉淀相影响沿晶断裂机制这一现象引伸出来的几个有
趣的问题。可在断口上看到处于原先位置的质点，并可用带x射线潜仪的扫
描电子显微镜对
它们进行观察和分析。如果质点太小，还可用经典的电子显微镜复型技术把
它萃取下来，再通过电子衍射来鉴定、或通过电子探针或直接用带有x射线
质谱仪的电子显微镜加以分析。
这样一来，解决问题的可能性就增加了。这也体现了显微斯口学的长处:它
不仅可用来研究一般的沉淀现象，也是一种解决冶金学问题的研究方法，因
为把造成某种类型脆性的元素确认出米，就是为消除这种缺陷迈出了重要的
一步。
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