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本文标题："晶粒测量用工具显微镜-晶粒边界测量金相显微镜"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-10-5 20:38:57

晶粒测量用工具显微镜-晶粒边界测量金相显微镜

虽然晶粒内部位错密度的增加是很重要的加工硬化的来源，
但是我们不可忘记，晶粒边界也是相当有效的阻止滑动的障碍，

所以也是一种加工硬化的来源。当形变量低时，晶粒边界硬化占主
导地位，此时晶粒内的位错密度很低，晶粒边界成为滑动的主要障
碍;当位错穿过晶粒内的位错林或缠结越来越难时，

也就是当应变量大时，颖拉边界硬化的相对重要性就降低了。

下面我们将主要考察晶粒边界的存在如何增加使样品变形所必需的
应力以及这一应力(对于一给定的应变)与晶粒大小的关系。

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