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本文标题："SEM显微镜试验或电抛光需要导电镶嵌-金相常识"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-12-4 5:36:34

SEM显微镜试验或电抛光需要导电镶嵌-金相常识

而微探针，SEM显微镜试验或电抛光则要求导电镶嵌。如果非导电塑

料镶嵌，充电度或附加X 射线信号的发射同镶嵌材料均有极大关系，

所有以上诸因素，在选择镶嵌材料时应优先考虑，这一阶段上一个

小小的安排，便可避免后来的失败。

另一种可选用的方法是在大气压下往横具中加环氧树脂，并将

镶样放在真空干燥器中除尽所有空气泡。过程约需10min 或更长一

点，当空气被允许进入容器时，环氧树脂便压入空隙中。

有些用户则宁愿采用真空和空气的循环交替，其它有用方法是

放入横具前，先把环氧树脂在真空下脱气几分钟，然后再对填充好

的模具脱气，可是，这些工艺都不如介绍的第一种方法有效。

最好的方法是将环氧脱气并倒入抽空的模具中，且这些操作均

在真空室内完成。

斜面镶嵌金相工作者常将斜面剖切同光学显微术配合，要获取

更多的表面组织细节。Samueis 将此法引伸到研磨和抛光对表面变

形影响的研究通过给试样表面磨出一个小角度或在镶样时稍微起一

头，均可得出倾斜截面。所得放大倍率等于倾角a 的余割。

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