本文标题："热加工金相分析微观晶粒尺寸的应用常识"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-5-6 15:39:30
热加工金相分析微观晶粒尺寸的应用常识
正常晶粉长大之前的异常晶粒长大
尽管通常异常晶牧长大是在正常晶粒长大过程受阻的情况下
发生的，即异常晶粒长大发生于正常晶粒长大之后。但根据一些理
论研究结果。如果初次再结晶之后的晶粒尺寸分布超出了正
常晶粒长大所允许的尺寸分布范围，则组织中一些大晶粒将获得
明显高于其他晶粒的长大驱动力而以“异常”的高速度不断扩张，
直到其余较小的晶粒全部消失，而使晶粒尺寸重新分布于一个正
常的、较窄的尺寸范围内。这个过程被称为发生于正常晶粒长大之
前的异常晶粒长大。此后，如果下述条件得以满足，则将恢复正常
的晶粒长大:首先，在较小晶粒消失后，晶粒尺寸的分布范围必
须足够窄小，以满足正常晶粒长大所需的晶粒尺寸分布范围。其
次，此时晶粒组织内不存在诸如表面、第二相粒子以及织构等阻
碍正常晶粒长大的因素。
有关正常晶粒长大之前的异常晶粒长大至今尚无直接实验证
实，其原因也许是因为这一过程过于短暂。但另一方面，对晶粒
长大过程的计算机随机模拟和理论分析却得出了相反的结论:
在不考虑表而、第二相粒子以及织构等因素的情况下，明显超出
正常分布尺寸范围的特大晶粒的相对长大速度并不比其他晶粒
快.相反在远离特大晶粒处的一些晶粒的尺寸反而越来越接近于
特大晶粒，最终恢复正常的晶粒尺寸分布状态，其间并没有发生
异常晶粒长大。这一论点似乎违背有关晶粒长大过程中大晶粒长
大小晶粒缩小的一般认识，但完全否定它至少在目前也还缺乏足
够的依据。
后一篇文章：用生物来分析水质-浮游动物特征分析显微镜 »
前一篇文章：« 电阻测量应在比测量较低纯度样品更低温度下进行
tags:技术,技能,实验,金相显微镜,上海精密仪器,
热加工金相分析微观晶粒尺寸的应用常识,金相显微镜现货供应
本页地址：/gxnews/2491.html转载注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/