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本文标题:"上海光学仪器一厂研发设计出全新之测量仪器"

发布者:yiyi ------ 分类: 技术文章 ------ 人浏览过-----时间:2012-10-29 14:7:8

上海光学仪器一厂研发设计出全新之测量仪器 -- 光学影像测量仪、干涉显微镜块规比测仪及外径尺寸比测仪。

一二维光学量测设备上,上海光学仪器一厂产品维持我国很高的之市场占有率。
 
在测长仪方面,设计以花岗岩为基材,可依客户所需之长度而精心裁制。
在应用方面不仅可量测块规、环规、塞规、卡规、分厘卡、螺纹规,更可进一步检测其它厂牌无法达到的检验。如内外螺纹之牙距及锥度之检验,且量测精度更是首屈一指(提供工件、花岗岩及光学尺之温度即时补偿),教导式软体更是使操作者一目了然。
 
  在比测仪方面,提供ABBE 250外径比测仪。采用自动上下式探针进行量测,减少人为误差。EMP系列之块规比测仪更是将光学尺之长距离检测优势应用于此。在进行块规比对式量测时,不需一对一同尺寸的检测,如于100 mm之量测范围,仅需提供10片以下之标準片,便可进行量测。在整个量测过程中,大大的提高时间效率及降低块规成本之预算,对整体之效益,提供莫大之帮助。

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上海光学仪器一厂研发设计出全新之测量仪器,金相显微镜现货供应


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