本文标题："显微区结构的差别会不会引起再结晶核和形核率的变化"

显微区结构的差别会不会引起再结晶核和形核率的变化

    随看晶粒尺寸减小，界面区的体积增加，而显微镜带所占体
积则减小。当变形速度增加和变形温度降低时，一部分弥散相溶
入固溶体，变形孪晶的作用则增加。较高浓度的弥散质点会增加
变形织构主要组分的散布。
    局部显微区结构的差别也会引起再结晶核心位向和形核率的
差别。
    显然，最初在原始晶界处、杂质质点上以及位向常不同于高
斯位向的牛曼带内开始形核。在显微带内，形核慢，在变形带内，
形核最慢(通过原位再结晶机制形核)，在后一种情况下，再结晶
织构再现变形带的织构。
    与此对比，在显微带中，亚晶的生长与强烈的位向差有关。
更重要的是，第二相质点稳定基体只到一定温度，高于这个温度，
弥散质点开始溶解，以致发生二次再结晶。析出物的浓度和弥散
度应当足够大，以抑制大量晶粒过旱长大，但是也不要太大，以
致阻碍高温加热时的长大，并造成基体的“过度稳定化”。弥散
质点的溶解速度也很重要，为防止大量晶粒长大，溶解速度应缓
慢。  
    因此，为产生高斯取向织构的另一重要条件是适当地选择合
金成分和处理方式，以保证组织的最佳稳定化。
    为制造变压器钢，最广泛地应用两种工艺——氮化和硫化。
在前一工艺中，基体被铝、硅、锰和其它元素的氮化物所稳定，
其中，氮化铝最重要，因为它最稳定且不易聚集。在硫化工艺
中，基体被锰和其它元素的硫化物所稳定。

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