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本文标题："测量覆层取样的方法-检测件的结构分析显微镜"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2016-5-7 4:23:45

测量覆层取样的方法-检测件的结构分析显微镜

取样

测量覆层某一部位的厚度并不能确定各点的厚度。通常取样．

应根据要求在关键部位之一处或多处选取．如果没有要求，也．

应在关键表面且最不符合覆层厚度要求处进行取样．

取样大小可根据具体检测件的结构而定，通常为不大于1 2

25mm的方形块或圆柱体。此外，取样应注意不要改变覆层

尺寸。

边缘保护

边缘保护是在试样的覆层表面上再加一层覆层，其目的是在：

试样制备过程中起保护试样的边缘作用。保护覆层用的金属材料

硬度应具有近似子覆层金属材料的硬度，而且应和被测覆层颜色．

有较好的对比度，因此采用的金属材料要加以选择。如测量镍镀．

层时选用铜作边缘保护层，反之测量铜镀层时选用镍作保护层．

对于锌和镉镀层不宜用铜作保护层，因为在浸蚀过程中铜层-

会遮蔽被测镀层。通常测锌镀层用镉作保护层，而测镉镀层又甩

锌作保护层。

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