本文标题："AFM显微镜发明突破了STM对样品材料的导电要求"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2016-12-7 1:40:2
AFM显微镜的发明突破了STM对样品材料的导电要求
AFM的发明突破了STM对样品材料的导电要求，可对包括绝缘表
面在内的各类表面进行接近原子级分辨精度的形貌测量。因而AFM
在超精密加工表面形貌测量领域有着极其重要的应用价值。以常见
的接触模式为例，系统工作时，AFM探针针尖与样品表面保持准接
触状态，且针尖相对于样品表面做X、y向栅格扫描运动。扫描过程
中，探针的悬臂梁将受样品表面形貌的调制而发生形变。这一形变
量则由力检测系统检测获得并将其反馈至控制系统。控制系统进而
控制扫描管沿Z向伸缩变化以保持悬臂梁的形变量恒定。这样系统
便可通过采集扫描管的Z向伸缩量信息获得样品表面的三维形貌。
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AFM显微镜发明突破了STM对样品材料的导电要求,金相显微镜现货供应
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