本文标题："测涂层内总微孔容积或是平均微孔半径分析显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2017-5-14 23:40:6
测涂层内总微孔容积或是平均微孔半径分析显微镜
辐射电子成像法
在传输成像中利用电子(或p射线)而不是光子，是因为电子受
涂层的影响比受原纸的影响更强烈。这是因为与碳原子占优势的纸
张相比较，无机颜料有更高的平均原子量。较重的原子有较密的电
子云，因而与电子束的相互作用更强烈。传输电子成像就比传输光
成像给予更精确的涂布量分布图像。
Kubelka—Munk理论
Kubelka—Munk理论可用以推测涂层内部相关颜料堆积效率方
面的信息。有时往往自然地假设颜料散射性是一个内在性能，颜料
混合物的散射性可按其颜料成分的线性组合进行计算。但实际并不
是这样，因为散射性跟颜料所处环境有十分复杂的关系。形成颜料
混合物并不难，但其所得的堆积密度则可能会比单个组分要好些或
坏些。这就使形成的散射系数低于或高于根据线性综合计算所预测
的结果。因此如果涂布配料形成低于或高于所需的散射系数，就可
以推断该涂层比单独组分有不同的微孔结构。可能不同点或是总
微孔容积或是平均微孔半径。
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