本文标题："显微镜检查300mm晶片及外观检查-搭配多种的观察方法"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2013-1-17 23:58:47
显微镜检查300mm晶片及外观检查-搭配多种的观察方法
特点
◆高安全性高可靠性
●针对各类晶片,设计出各种抓取手臂,提昇机提稳定性, 设计新型的吸取装置可对应特殊晶片
●可以针对各种晶片资料储存,提高安全性及多变性
●对应300mm晶片的薄片
●翻转时增加防掉落装置,
◆简单的操作 提昇观察的效率
●人性化符合人体工学的操作环境,可减少操作者因长期使用产生的疲惫感,进而提昇工作效率
◆提供多种观察平台及特殊光源
●在显微观察可搭配多种的观察方法,可满足您的各种需求
明视野
暗视野
微分干涉观察法
萤光观察法
深层紫外光观察
●设计出各种光源,光线,的察觉晶片表面的缺陷
●多种光源装置提供给使用者选择, 搭配特定波长,更轻松简单得检察晶片表面背面上的异物微粒、刮痕、薄膜等等运用…
◆更丰富有弹性的搭配环境环境
●针对各种环境,设计出多种高画质的显微照相系统都可搭配300mm半导体晶片传送检查机
●量测分析软体可对应各种的影像分析
●可搭配高画质的摄影机或数位相机,即可在萤幕上观察加强方便性和效率
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