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本文标题："晶粒构成的多晶体试样检测用电子显微镜的常识"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-8-20 12:41:33

晶粒构成的多晶体试样检测用电子显微镜的常识

当一电子束穿过任一晶体的周期性晶格时，将会被衍射.如

果将透射电子显微镜的光学布置稍作改变，就能把试样的衍射花

样(而不是表面形貌图象)投影在荧光屏上.如相对于光束的截面

积而言，晶体的尺寸足够大，

则将产生衍射斑点并可用晶体结构来

诊释.对于近似完整的晶体，还能看到菊池线(Kikuohi lines);

有时可用它们来测定晶体取向.由很多尺寸比光束面积小得多

的，并且无规则取向的小晶粒构成的多晶体试样，将产生圆环状

的衍射花样。取一级近似，环的直径D可由下式给出(除非在试样

与荧光屏之间还有放大级存在)，

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