本文标题："荧光变化测量可以分为两类：光谱变化和荧光强度变化测量"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-5-7 10:18:29
荧光变化测量可以分为两类：光谱变化和荧光强度变化测量
荧光变化测量可以分为两类：一类是荧光光谱变化测量，激发光使用
紫外光、蓝紫光或蓝光，在激发光的连续照射过程中，按一定的赶时间
间隔重复荧光光谱测量，从而研究的机质随激发光照射时间延长，荧光
光谱能成的变化。
第二类是荧光强度变化测量。研究在特定波长有机质
荧光强度随时间的变化。激发光使用紫外光或蓝光，测量方法与强度测
量一样，所不同的是，对被测组分进行连续照射，并按一定的时间间隔
进行测量 。
一般来说，荧光变化测量不需要标定荧光标准，但为了对荧光强度的
所认识，仍以轴玻璃作为标样，其强度值定为1.这样，实际测出的就是
有机显微组分的相对荧光强度，为了排除不同样品间荧光强度的差别，
需要将测到的荧光强度值再进行一次换算，将最初的荧光强度测值（可
以看成照射时间为零）规定为初始荧光强度值（简称初始强度值），视
初始强度值为百分之百，将照射若干分钟后的强度测值 减去初始强度
值，即可得出与初始强度值之间的相对强度差，相对强度差可正或负，
再用它除以初始强度值，乖以100，即得出照射若干分钟后，荧光强度
的变化百分率（可正可负），以时间为X轴，强度变化百分率为Y轴，那
么不同时间荧光强度变化百分率的连线就构成荧光强度变化曲线。
其它壳质组组分的荧光光谱特征
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