本文标题："TEM电子显微镜试样的测量面积很小-断口定量分析"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-5-13 5:1:31
TEM电子显微镜试样的测量面积很小-断口定量分析
TEM试样的测量面积很小，取样的代表性是需要考虑的一个
问题，应当尽可能用低的放大倍数，并在许多部位上随机选
择测量区。
SEM试样的放大倍数范围较宽，其制样方法和光学显微镜一
样，有时为了增加图像衬度而宁愿把样品浸蚀得深 一些，
但是深浸蚀将增加测量误差，如增加第二相的表观尺寸、体积
分率以及第二相粒子的数量而减小它们之间的间距，其实
，对较新型的仪器为需要浸蚀深，在高倍观察时，浅浸蚀可以
得到最好的精度，用SEM方法进行定量测量时，应当尽量避免
样品的倾斜，因为那会使分析复杂化。
断口定量分析
大多数断口表面不是平面，光学显微镜观察有很大局限性，
现时主要用TEM复型和SEM观察与分析断口。
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