本文标题："超高分辨显微学研究所需专门设备实验室显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-8-7 10:12:10
超高分辨显微学研究所需专门设备实验室显微镜
鉴于高分辨率工作中干涉效应的重要性，我划出了单独几章专
门讨论相干性和波动光学。其中包含了一些数学内容，但我已尽量
使其简化。
遗憾的是：虽然理论家们作了很大努力，但是尚未只到一般样品的高
分辨率象和样品结构之间某种简单的解析关系。因此必须仔细研究
可以用样品结构作简单图象解释时的各种不同的实验条件。只有理
解了影响图象的实验参量，才能对某种特定样品的实验条件作出明
智的选择。例如，高分辨率的暗场象很可能包含一些错误的特征。
然而，由于制样技术的进展(现在有些样品可以制成仅为几个nm厚)
和使用了较高的加速电压，所以有关成象的最简单理论很可能继续
流行下去。
超高分辨显微学研究所需专门设备的少数研究性实验室。目前这些
方法正迅速普及。
若图象分辨率限制在0．36am左右，则现在可能提出一种直
接的步骤来记录许多样品的象，它们可以无困难地按样品结构予以
解释。
常规透射型电子显微镜与光学显微镜相比，就其图象衬度(强
度变化)是由于样品上逐点的光学吸收不同所引起的，从这一点来
看，两者是极其相似的。许多电子显微学家也用类似的方法来解释
其电镜象，他们用‘吸收’来表示电子在物镜孔径(aperture，或
光阑)。外的散射。实际上电子绝不会被样品‘吸收’，它们只能
因大角度散射到物镜光阑以外而从图象中丢失，或者是由于在样品
中能量损失和波长变化，它们可能在距显示弹性散射象的观察屏较
远的一个平面上聚焦。
故这种离焦非弹性’散射或能量损失象
对正聚焦(in-foeus)弹性散射象的影响，只是提供了一个均匀的背
景。 因而图象衬度一般可理解为由于在大角度散轨即大‘质量厚
度’区域产生的强度损失而造成的，这种大角度散射射线被物镜光
阑所截住。描述这个过程的理论是非相干成象理论
通过比较可知，高分辨率透射电子显微镜与光学相(位)衬(度)
显微镜(phasecon~rastmicroscope)是十分类似的。
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