欢迎来到上海光学仪器一厂

本文标题:"覆层厚度测量的方法-电容技术测量覆层厚度"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2016-5-8 9:41:46

覆层厚度测量的方法-电容技术测量覆层厚度

 
电容法适用予金属基体上非导电的
 
薄覆层厚度的测量,如铝管材和铝容器上的环氧漆等。微波法可用来
测量介质基体上的介质覆层厚度,特别是象测量石英玻璃上的铬镀
层厚度,测量厚度可达0.01μm。热电势法适合于铁基体上镍镀层
厚度的测量.石英振荡法特别适合予沉积层沉积过程中的厚度监
控。轮廓仪法用于测量lum以下厚的覆层有很高的准确度。机械
法象在油漆涂覆过程中厚度检测也有其特别简便之处.因此,
在一定的范围内得到应用.
 
    电压击穿法曾被用于测量铝阳极氧化膜厚度,但由于属破坏
法、可靠性低,而被涡流法无损测量所取代。超声波法测厚可用
来测量较厚的覆层,但更普遍的是用于板材和管材等厚度的测
量;对于较薄的覆层厚度,如在100μm以内厚的覆层尸测量准确
度很低,甚至根本不能进行测量.总之,这些测匣法应用都很少,
因而不作专门的介绍。
 
电容法覆层厚度测量
当基体材料为铁磁材料,而且其磁导率变化范围较大,用磁
法测量覆层厚度就不适宜;同样当基体材料为导电材料时,其电
导率变化范围也较大,且基体厚度彼薄,如铝箔,也不宜于用涡
流法来测量其覆层厚度。在这种情况下,利用电容法来测量其非
导电覆层厚度是很适宜的。
    电容法覆层厚度测量实际上是以规定大小的金属片作为测
头,将它放在有非导电覆层的被测金属件上,测头上金属片作为
电容的一极,而被测件基体金属作为电容的另一极,两金属片间
由于非导电覆层的存在而形成电容,其容量大小是随覆层厚度的
不同而变化的.
 
分度曲线,从而能快捷地确定出覆层厚度。
 
    在电容法覆层厚度测量中,当测头置于被测件边缘处,或表
面曲率变化,或测头磨损以及温度、湿度等变化都会对被测电容
量产生一些影响;由于电容法测量频率较高,外电磁场的干扰,
以及基体电导率、磁导率变化带来电阻和电感量的某些变化,也
将对测量产生一定的影响,都应加以注意和消除。
 
    利用电容法测量覆层厚度,覆层愈薄,测量灵敏度愈高.电
容法测量覆层厚度的范围为lOO微米以内,可测的最大厚度可达
350微米,通常测量误差是±5%.
 

后一篇文章:热电势镀层厚度测量技术简介-粗糙度测量显微镜 »
前一篇文章:« 测量线材或棒材的镀层厚度-线材镀层测试显微镜


tags:材料学,矿物,金相显微镜,上海精密仪器,

覆层厚度测量的方法-电容技术测量覆层厚度,金相显微镜现货供应


本页地址:/gxnews/3433.html转载注明
本站地址:/
http://www.xianweijing.org/