本文标题："移测量或应力分析-相位测量技术分析"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2016-7-4 19:16:26
移测量或应力分析-相位测量技术分析
应用
所有这些技术都可以用于位移测量或应力分析，也可以用于目
标轮廓测量。位移测量是通过比较物体一个微小位移前后或加载负
载前后的条纹图案来进行的 由于这些测试的灵敏度是可变的，
因此相比于全息技术，它们可以用于更大范围位移与应力测量。通
过对所获得的两幅条纹图案进行比较，同样能够实现对两个物体或
物体与标准件进行比较的差分干涉测量术。最后，利用莫尔技术进
行时间平均振动分析与使用更长有效波长的时间平均全息术获得的
结果相似。
使用相位测量技术时，可以定量地获得与某些参考面相对的表
面高度。如果等高线在物空间内是等问距的直条纹，那么参考面将
是一个平面。在计算机中，可从表面高度中减去任何理想平面(或
面)以产生和所有表面有关的表面轮廓。这类似于通过光栅(或变形
光栅)观察等高线以减少它们的数量。如果等高线不是等间距直条
纹，参考面将不再是平面。通过在待测物体位置放置一块平面，并
测量它的表面高度就可以确定参考面。一旦获得参考面的面形数据
，就可以在随后的测量结果将其减去而获得待测面相对于参考平面
的表面高度。因此．采用相位测量干涉术可以使表面高度和所有表
面有关，并且能将其转化为与另一个表面有关的表面高度。对装置
进行更深入的研究，可以将标准件与多个测试件进行比较测试以确
定其形状是否符合规定。应当指出的是这种测试将会对某一方向比
较敏感，而且可能存在一些由于表面上的阴影而造成数据丢失的区
域。
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