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本文标题:"电子探针X射线微区分析仪兼具显微化学分析及光学显微镜之功能"

发布者:yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间:2012-6-21 18:5:31

 电子探针X射线微区分析仪兼具显微化学分析及光学显微镜之功能。

对显微分析又兼有定性与定量分析之能力。对固态元素定性与定量分析,适用于Z>11(Na),分析能力约为 100ppm,解析范围约为1um。单独作定性分析可测至Z>5(B)。通常EPMA同时附设 WDS及EDS之侦测设备,两者功能可以利弊互补,WDS 解析敏度为100ppm; EDS则为 1000ppm (0.1wt%)。在重元素材质中含有轻元素时,解析度则更差。EPMA 之电子束涵盖试片面积,直径约为1um,电子贯穿试片深度亦约为lum。
 
         作定量分析时,试片必须磨平,材料之破裂断面以及基材内含有不规则形状之颗粒,EPMA 虽也能分解,但精度较差EPMA是有多种功能的显微分析工具。它特别适用于:(1)微组织内含有个别相的成份分析 ; 譬如钢铁合金内之析出物,第二相等。(2)晶界间成份梯度之变化及分佈状态。(3)个别相组织内成份均匀或不均匀之分佈状况(在lum范围内)。以及(4)非均匀元素分佈图 (mapping) 之测定等。

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