本文标题："半导体样品实验覆层截面分析金相显微镜"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2018-2-23 16:27:46
半导体样品实验覆层截面分析金相显微镜
半导体覆层故障
本故障指在线圈没有振动的情况下槽内定子线棒或线圈半导体
覆层发生劣化。该故障机理只发生在掺碳漆或胶带作为半导体层的
成型线圈和线棒上；并且通常发生在额定6kV及以上电压等级的常
规电机上。这种故障过程也发生在由PWM电压源逆变器供电的定子
上，起因源自逆变器驱动装置产生的很高的电压脉冲
。因此额定电压在3kV及以上的由逆变器馈电的电动机(一般也
总是带有半导体覆层)也存在此故障风险。由于故障过程与局部放
电有关，该问题更容易发生在空气冷却电机上。运行在高海拔(大
于1000m)地区的电动机和发电机，由于大气压力低，空气的击穿电
压也较低，因此更可能遇到这类问题。另外，经验表明，具有漆基
半导体涂覆层的线圈和线棒，比采用胶带基半导体包覆层的线圈和
线棒更容易发生这种劣化机理，尽管注意保持漆基中碳粉颗粒分布
均匀的情况下可减缓该故障过程。
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