本文标题："电子显微镜可以观察微米下材料的表面形貌-金相显微镜常识"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2013-1-20 1:11:21
电材料之表面形貌及其 vertical PFM 的振幅及相位图，可明显看出晶界必定为铁电区的边界，
而单一晶粒可以拥有数个小的铁电区，每个铁电区的尺寸可以小至几百奈米的尺寸。
PCT 表面形貌, (b) PCT 的 out-of-plane 铁电区的 amplitude 及 phase 影像，扫瞄尺寸为 1微米见方。
接着采用膜厚 300nm 的 Bi0.9Pb0.1FeO3(BPFO)铁电薄膜量测 in-plane 的局部
压电响应曲线。在图 4-3 中的红色十字所标的位置作定点的压电响应曲线量测，
为其 in-plane 压电响应曲线的(a)压电响应相位曲线图及(b)压电响应振幅曲线图及(c) 压电响应曲线图。
可知此定点的极化反转电压为4.385V，而在此in-plane 压电响
应曲线中可明显观察到有电压偏移的现象，此偏移的来源可能为表面感应电荷的
贡献，使施加电压为4.385V时仍无法顺利使极化反转，造成电压偏移。
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