欢迎来到上海光学仪器一厂

本文标题："扫描显微镜的工作原理简介-上海光学仪器一厂"

发布者：yiyi ------ 分类: 技术文章 ------ 人浏览过-----时间：2013-1-12 10:21:28

扫描探针显微术的工作原理

扫描探针显微术(Scanning Probe Microscopy:SPM)是近十几年来，

因STM的发明，而蓬勃发展出来的一系列显微技术的总称。

这些显微术都是利用一支微小探针，来侦测探针尖端与样品表面之间的某些交互作用。

前面所提的STM是侦测穿隧电流。如是侦测接触力(原子之间的排斥力)或凡得瓦引力

就称原子力显微镜(Atomic Force Microscope:AFM)。侦测磁

力称磁力显微镜(Magnetic Force Microscope:MFM)。侦测横向力称横向力显微镜(Lateral Force Microscope;LFM)。

侦测电解液中的法拉第电流称为扫描电化学显微镜(ScanningElectro chemical Microscope)。

在种类繁多的SPM中，最常用的两种技术是STM及AFM。由于STM 量测的是探针与材料

表面原子之间的穿隧电流。因此样品限定必须是导体。而AFM则对导体及非导体材料均可适用。所以它在材料科技方

面的应用特别的方便、重要和普遍。

tags:技能,金相分析,科学,金相显微镜,上海精密仪器,

扫描显微镜的工作原理简介-上海光学仪器一厂,金相显微镜现货供应