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本文标题："应用于电子学的图像比较显微镜制造厂商"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2014-6-4 5:15:42

应用于电子学的图像比较显微镜制造厂商

采用差动红外热敏成像法(DIT)的图像比较采用差动红外热敏成像法的

图像比较能对在不同时间得到的温度记录图进行自动比较。这包括基于时间

的DIT(从相同靶得到的图像比较)以及对比DIT(从不同但相似的靶得到的图

像比较)。

专门的软件程序允许操作者并从某一图像中减去另一图像，或从某一区域中

减去另一区域以及显示像素之间的“差值温度记录图”。图像的比较(相减)

可以在从磁盘检索的两个图像之间、实时图像与从磁盘检索的图像之间以及

实时图像与RAM中储存的图像之间进行。这样，合格电子封装、元件和组件

的标准热图像便可以归档，并用作与随后被检查物品比较的模型。也可以从

以前的基准图像中减去实时图像，用于随后基于时间的热瞬变测量。

这种图像比较功能对许多过去和当前的电子学应用是十分关键的。

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