本文标题："荧光强度随矿粒尺寸,荧光元素的矿粒的质量"
发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------
人浏览过-----时间：2015-11-28 4:12:40
荧光强度随矿粒尺寸,荧光元素的矿粒的质量
XRF载流分析的进一步研究
矿浆的某些性质、如固体百分含量、粒度分布、空气含量
等，都对XRF分析精度有重大影响。使计数率与固体百分含量和
固体中元素浓度联系起来的校准公式对精度可能也是很重要的。
矿粒尺寸的影响
一段时间来，人们认识到X RF分析粉末试样时，粒度分布
对特定元素的X射线强度有重大影响。X RF分析前，实验室甩
熔荆融化粉末试样(制成玻璃态的试样圆片)，以保证试样均质
及免除粒度的影响。而在载流分析中，粒度的影响不得不被默许。
粒度效应是这样引起的：当矿粒尺寸大到足以与试样激发出
来的x射线的穿透深度相比时，x射线实际上就仅由顶层的矿粒
产生。还可以观察到下述的情况。含有发荧光元素的矿粒的质量吸
收系数小于粉状物料中共它矿粒。还发现，荧光强度随矿粒尺寸
增大而减小。发荧光的矿粒具有较高的质量吸收系数时，可以看
到其荧光强度较低。
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