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本文标题："表面结构的高度测量光学计量粗糙度轮廓仪"

发布者：yiyi ------ 分类: 行业动态 ------ 人浏览过-----时间：2016-5-12 22:14:45

表面结构的高度测量光学计量表面粗糙度仪轮廓仪

要控制表面的功能特性，以至当涉及制造工艺的时候，只凭表面结构的高度测量是不充

分的，这一点几乎没有疑问．平均波长参数引出了一个附加的控制参量，这个参数取决于形

成表面的波长，更确切地说，它取决于他们的相对幅度．用比较廉价的仪器可以方便地获得

这个附加的参数．

在给定的通频带范围内，平均高度和平均波长的测量提供了表面控制的一种新手段，这

在摩擦学中具有重要意义，因为和平均高度以及曾经使用过的支承面积参数相比，平均波长

随着磨损而迅速改变．

在那些少有的情况下(即磨损)波形的不对称性是重要的，因而提出了一个和幅度分布

的偏斜度(对称性)密切相关的最终参数，这对仪器来说比较简单．

一起使用时，对任何功能要求应该都能满足．

除了已经标准化的仪器截止波长系列以外，使用一个短波长截止滤波器，其优点在于仪

器的高频响应特性与幅度无关，尽管目前大多数仪器的响应特性由该装置的触针针尖的尺寸

所限定，其响应特性仍取决于被测表面的数值大小和间距．传输特性曲线现在变为带通，因

此平均高度和平均波长的概念可延伸到长波领域的波度测量中，并且当所提供的仪器有足够

长的行程时，还可用这种方法测量和评定平直度．

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